నేపథ్యం

UL 1642 యొక్క కొత్త వెర్షన్ విడుదల చేయబడింది. పర్సు కణాల కోసం భారీ ప్రభావ పరీక్షలకు ప్రత్యామ్నాయం జోడించబడింది. నిర్దిష్ట అవసరాలు: 300 mAh కంటే ఎక్కువ సామర్థ్యం ఉన్న పర్సు సెల్ కోసం, హెవీ ఇంపాక్ట్ పరీక్షలో ఉత్తీర్ణత సాధించకపోతే, వాటిని సెక్షన్ 14A రౌండ్ రాడ్ ఎక్స్‌ట్రూషన్ టెస్ట్‌కు గురి చేయవచ్చు.

పర్సు సెల్‌కు కఠినమైన కేసు ఉండదు, ఇది తరచుగా సెల్ చీలిక, ట్యాప్ ఫ్రాక్చర్, శిధిలాలు బయటకు ఎగిరిపోవడం మరియు హెవీ ఇంపాక్ట్ టెస్ట్‌లో వైఫల్యం వల్ల కలిగే ఇతర తీవ్రమైన నష్టానికి దారితీస్తుంది మరియు డిజైన్ లోపం లేదా ప్రక్రియ లోపం వల్ల కలిగే అంతర్గత షార్ట్ సర్క్యూట్‌ను గుర్తించడం అసాధ్యం. . రౌండ్ రాడ్ క్రష్ పరీక్షతో, సెల్ నిర్మాణం దెబ్బతినకుండా సెల్‌లో సాధ్యమయ్యే లోపాలను గుర్తించవచ్చు. ఈ పరిస్థితిని దృష్టిలో ఉంచుకుని సవరణ జరిగింది.

ప్రవాహాన్ని పరీక్షిస్తోంది

• తయారీదారు సిఫార్సు చేసిన విధంగా నమూనా పూర్తిగా ఛార్జ్ చేయబడుతుంది
• ఒక ఫ్లాట్ ఉపరితలంపై నమూనా ఉంచండి. 25 వ్యాసంతో ఒక రౌండ్ స్టీల్ రాడ్ ఉంచండి±నమూనా పైన 1 మి.మీ. రాడ్ యొక్క అంచు సెల్ యొక్క ఎగువ అంచుతో సమలేఖనం చేయబడాలి, నిలువు అక్షం ట్యాబ్‌కు లంబంగా ఉంటుంది (FIG. 1). రాడ్ యొక్క పొడవు పరీక్ష నమూనా యొక్క ప్రతి అంచు కంటే కనీసం 5 మిమీ వెడల్పుగా ఉండాలి. వ్యతిరేక వైపులా సానుకూల మరియు ప్రతికూల ట్యాబ్‌లు ఉన్న సెల్‌ల కోసం, ట్యాబ్‌లోని ప్రతి వైపు పరీక్షించాల్సిన అవసరం ఉంది. ట్యాబ్ యొక్క ప్రతి వైపు వేర్వేరు నమూనాలలో పరీక్షించబడాలి.
• మందం యొక్క కొలత (సహనం±IEC 61960-3 (ఆల్కలీన్ లేదా ఇతర నాన్-యాసిడ్ ఎలక్ట్రోలైట్‌లను కలిగి ఉన్న సెకండరీ సెల్‌లు మరియు బ్యాటరీలు - పోర్టబుల్ సెకండరీ లిథియం కణాలు మరియు బ్యాటరీలు - పార్ట్ 3: ప్రిస్మాటిక్ మరియు స్థూపాకార లిథియం సెకండరీ) అనుబంధం A ప్రకారం కణాల కోసం 0.1 మిమీ) పరీక్షకు ముందు నిర్వహించబడుతుంది. కణాలు మరియు బ్యాటరీలు)
• అప్పుడు స్క్వీజ్ ఒత్తిడి రౌండ్ రాడ్పై వర్తించబడుతుంది మరియు నిలువు దిశలో స్థానభ్రంశం నమోదు చేయబడుతుంది (FIG. 2). నొక్కడం ప్లేట్ యొక్క కదిలే వేగం 0.1mm / s కంటే ఎక్కువ ఉండకూడదు. సెల్ యొక్క వైకల్యం 13 కి చేరుకున్నప్పుడు±సెల్ యొక్క మందం యొక్క 1%, లేదా పీడనం టేబుల్ 1లో చూపిన శక్తిని చేరుకుంటుంది (వివిధ సెల్ మందాలు వేర్వేరు శక్తి విలువలకు అనుగుణంగా ఉంటాయి), ప్లేట్ స్థానభ్రంశం ఆపివేసి, 30 సెకన్లపాటు పట్టుకోండి. పరీక్ష ముగుస్తుంది.
• నమూనాల అగ్ని లేదా పేలుడు లేదు.

ప్రయోగాత్మక విశ్లేషణ

• ఎక్స్‌ట్రాషన్ పొజిషన్ ఎంపిక: పోల్ ట్యాబ్ ప్రాంతం సాధారణంగా పర్సు సెల్ యొక్క బలహీనమైన ప్రాంతం, మరియు ట్యాబ్ పొజిషన్ స్క్వీజ్ చేయబడినప్పుడు అత్యధిక ఒత్తిడిని కలిగి ఉంటుంది. కారణాలు:

ఎ) అసమాన మందం పంపిణీ (పోల్ ట్యాబ్ మరియు చుట్టుపక్కల క్రియాశీల పదార్ధం మధ్య అసమాన మందం అసమాన ఒత్తిడి పంపిణీకి దారితీస్తుంది)

బి) ట్యాబ్ ప్రాంతంలో వెల్డింగ్ మార్కులు (వెల్డ్ పాయింట్ మరియు నాన్-వెల్డ్ పాయింట్ వద్ద ఒత్తిడి పంపిణీ)

• రౌండ్ రాడ్ ఎంపిక: రౌండ్ రాడ్ యొక్క వ్యాసం 25 మిమీ. సెల్‌లోని పోల్ ట్యాబ్ యొక్క మొత్తం ప్రాంతాన్ని కవర్ చేయడానికి ఈ విలువ ఎంపిక చేయబడింది (ముఖ్యంగా పోల్ ట్యాబ్ టంకము ఉమ్మడిని కవర్ చేసే ప్రాంతం).
• 13±1% వైకల్యం: ప్రస్తుతం, మార్కెట్‌లో అత్యంత సన్నని సెల్ మందం 2మి.మీ. బ్యాటరీ ఎన్‌క్లోజర్ లేదా ప్యాకేజింగ్ ప్రక్రియ ప్రభావం కారణంగా, పోల్ ట్యాబ్ టంకము జాయింట్‌కు కుదింపు కోసం కనీసం 8% టైప్ వేరియబుల్ అవసరం, అయితే టైప్ వేరియబుల్ చాలా పెద్దగా ఉంటే అది నేరుగా ఎలక్ట్రోడ్ క్రాకింగ్‌కు దారి తీస్తుంది. విలువ 13±IEC 62660-3లో ఎక్స్‌ట్రాషన్ పరీక్షలో మీడియం వేరియబుల్ 15%ని సూచిస్తూ, ఈ పునర్విమర్శలో 1% ఎంపిక చేయబడింది.
• నమూనా ఎంపిక: ఈ పరీక్ష 300mAh కంటే ఎక్కువ సామర్థ్యం ఉన్న మరియు భారీ వస్తువులు తాకని పర్సు సెల్‌లకు మాత్రమే అని గమనించాలి. 5 నమూనాలు అవసరం. స్థూపాకార లేదా ప్రిస్మాటిక్ కణాలు మరియు భారీ వస్తువులతో కొట్టబడిన పర్సు కణాలు'ఈ పరీక్ష కోసం పరిగణించాల్సిన అవసరం ఉంది.

సారాంశం

కొత్త రౌండ్ రాడ్ ఎక్స్‌ట్రూషన్ టెస్ట్ UL 1642 యొక్క అసలైన ఎక్స్‌ట్రాషన్ టెస్ట్ నుండి భిన్నంగా ఉంటుంది. అసలు ఎక్స్‌ట్రాషన్ టెస్ట్ ఫ్లాట్ ఎక్స్‌ట్రాషన్‌ను ఉపయోగించడం మరియు సమయం పట్టకుండా స్థిరమైన 13kN ఫోర్స్‌ను వర్తింపజేయడం. ఇది అన్ని రకాల సెల్‌లకు వర్తిస్తుంది. ఈ పరీక్ష మొత్తం సెల్ యొక్క యాంత్రిక బలాన్ని (కేసుతో సహా) మరియు యాంత్రిక ఒత్తిడిని తట్టుకునే సామర్థ్యాన్ని పరిశీలిస్తుంది; రౌండ్ రాడ్ ఎక్స్‌ట్రాషన్ సెల్‌లోని కొంత భాగాన్ని మాత్రమే పరీక్షిస్తుంది, ఇండెంటర్ యొక్క చిన్న ప్రాంతం అంతర్గత ఒత్తిడిని కేంద్రీకృతం చేస్తుంది, అంతర్గత షార్ట్ సర్క్యూట్‌కు దారితీయడం సులభం చేస్తుంది. ప్రత్యేకించి, పోల్ టాబ్ వెల్డింగ్ యొక్క బలహీనమైన ప్రదేశంలో వెలికితీత స్థానం ఎంపిక చేయబడింది, ఇది సెల్ యొక్క భద్రతా పనితీరును బాగా పరిశోధించగలదు.

ప్రస్తుతం, ఈ రౌండ్ రాడ్ పద్ధతి GB 31241లో పర్సు సెల్ యొక్క ఎక్స్‌ట్రూషన్ టెస్ట్‌లో కూడా ఉపయోగించబడుతుంది. MCM ఈ ఆపరేషన్‌లో రిచ్ టెస్టింగ్ అనుభవాన్ని కలిగి ఉంది.